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镀银测厚仪,铜上镀铜测厚仪,电镀银厚度检测仪

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品       牌

厂商性质其他

所  在  地上海市

更新时间:2022-06-03 20:30:03浏览次数:11次

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可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

 

韩国先锋X射线镀层测厚仪

 

型号:XRF-2000测厚仪系列

快速检测各种材质上镀层厚度,可测单层,双层,多层,合金镀层厚度

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...

如铜上镀镍镀金,铜上镀镍,铜上镀银,铁上镀锌,铜上镀镍镀铬等
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒内便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦, 操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。


可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:液晶显示器,彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

 

X射线镀层测厚仪,X荧光无损测厚仪,X-RAY膜厚仪,电镀测厚仪 韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪

 

 

X射线镀层测厚仪,测量电镀层厚度,如电镀或化学镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜,镀锌镍合金等.

 

机器配置

 

全自动台面


自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.04-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间:10-30秒

测量功能:单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层

 

精度控制
      *层:±5%以内
      第二层:±8%以内
      第三层:±12%以内

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