镀金X射线测厚仪 返回列表页

镀金X射线测厚仪

韩国Micro Pioneer

XRF2000镀层测厚仪

快速检测各种材质上镀层厚度,可测单层,双层,多层,合金镀层厚度

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...

如铜上镀镍镀金,铜上镀镍,铜上镀银,铁上镀锌,铜上镀镍镀铬等
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒内便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦, 操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪,

提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能,而且价钱
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
 

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

铜上镀镍镀金测厚仪