铜上镀锡X射线测厚仪XRF-2020 返回列表页

铜上镀锡X射线测厚仪XRF-2020：检测范围0.3-50um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单

 XRF-2020镀层厚仪测试范围   

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

XRF-2000测厚仪韩国MicroPioneer

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2000已升级为XRF-2020

XRF-2000测厚仪韩国MicroPioneer​精度

*层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

XRF-2000测厚仪韩国MicroPioneer

可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等，不限底材。

如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等

双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材

多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材

合金镀层如：铁上镀锌镍等。不限底材

XRF-2000测厚仪韩国MicroPioneer型号：

XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm

XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm

XRF-2020测厚仪三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

铜上镀锡X射线测厚仪XRF-2020：检测范围0.3-50um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单