X-RAY膜厚测试仪镀层测厚仪 返回列表页

X-RAY膜厚测试仪镀层测厚仪

韩国XRF-2020L镀层测厚仪,

提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析

不单性能,而且价钱

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2020L为您大大节省成本。

只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台

镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的

可测量各类金属层、合金层厚度等。

韩国XRF-2020L镀层测厚仪

仪器功能

全自动台面
 

自动雷射对焦

多点自动测量

全自动样品台

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

X-RAY膜厚测试仪镀层测厚仪

韩国MicroPXRF-2020

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量。

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

工作方法，通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

快速测量：时间5-45秒

无损测试电镀层膜厚