膜厚测试仪X-RAY镀层测厚仪 返回列表页

膜厚测试仪X-RAY镀层测厚仪

韩国XRF-2020

韩国MicropXRF-2020系列

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

XRF-2020测厚仪韩国微先锋

标牌：Micro Pioneer  微先锋

货号：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款

L型：测量样品长宽55cm,高3cm

H型：测量样品长宽55cm,高12cm

应用：检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

H型测量样品高12CM,长宽55cm

L型测量样品高3CM,长宽55cm

检测镀层厚度0.03-35um

测量镀种：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单镀层：铜上镀锡，铜上镀镍，铁上镀镍，铜上镀锌，铜上镀银等

双镀层：铜上镀镍镀锡，铜上镀镍镀银，铁离子镀铜镀镍，铜上镀镍镀金等

多镀层：铁上镀铜镀镍镀锡。铝上镀铜镀镍镀银等

合金镀层：铁上镀锌镍，铜上镀锡铅等

不限基材

膜厚测试仪X-RAY镀层测厚仪

韩国XRF-2020

机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

机器容纳样品长550mm,长550mm,高H型100mm,L型30mm

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换