能量色散X荧光光谱仪 返回列表页

EDX3000B能量色散X荧光光谱仪

◆针对RoHS检测设计开发
◆测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
◆分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
◆也可以测量镀层厚度

◆◆ROHS指令检测主要技术指标

◆分析精度：0.05%
◆ 样品室尺寸：1000＊1000＊300MM
◆ 测量时间：60-300秒
◆ 工作电源：220U±5U
◆ 高 压：15-50KV
◆ 管 流：600μA
◆ 计数率：1300-8000Cps
◆ ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
◆ 检测时间为200秒
◆ 电致冷硅针半导体探测器
◆ 加强金属元素感度分析

◆◆仪器基本配置

◆单样品腔

◆计算机、喷墨打印机

◆硅针半导体探测器
◆硅针半导体探测器
◆放大电路
◆高低压电源
◆X光管

◆无真空腔体