能量色散X荧光光谱仪 返回列表页

高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。

◆◆技术指标:
◆分析精度: 0.05%
◆分析含量范围：1PPM-99.99%
◆测量元素：从硫至铀等75种元素
◆测量对象：粉末、固体、液体
◆分析电镀溶液中金属离子浓度
◆可分析10层以上的镀层
◆测试镀层zui薄至0.005um
◆步进zui小距离：0.01mm
◆测量时间：60~300秒
◆工作温度：15~30°C
◆相对湿度：< 70%
◆重量：30KG
◆工作电压：AC 110/220V

◆◆配 置：

◆单样品腔计
  ◆算机、喷墨打印机
  ◆硅针半导体探测器
  ◆放大电路
  ◆高低压电源
  ◆X光管
  ◆双*
  ◆50至100倍物体放大

EDX8000能量色散X荧光光谱仪