梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平 返回列表页

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梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平读数精度范围广 – 从0.005 mg到0.1 mg，量程范围从54 g到520 g，涵盖了所有分析工作流程。

Analytical Balances
什么是分析天平？
分析天平和半分析天平是一种形式的电子秤，用于以较高的精确度测量质量。
其称量量程范围为54-520 g，读数精度为0.005 mg - 0.1 mg。 分析天平的敏感性要求通过防风罩或防风柜对其进行保护。
梅特勒-托利多XPR和XSR分析天平配备了SmartGrid称量盘，可大程度减小气流扰动，因此缩短了稳定时间，更快获得称量结果。

Analytical Balances - Applications - Pipette Calibration
分析天平用在什么位置？ 分析天平的应用领域有哪些？
分析天平电子秤也称为“实验室天平”，可对样品进行定量分析。 电子分析天平的典型应用包括：
样品/标准液制备，
配方，
差重称量
密度测定
间隔称量
移液器日常测试
 
如何在分析天平上称量？
开始称量操作之前，打开门并使用手套或镊子将容器放置到称量盘上。 关门，等待表示重量的值稳定。 按去皮按钮直至其显示0.0000 g，清除显示内容。 添加样品，直到达到所需重量。 关门，再次等待稳定 – 记录净重。 如果仪器断开电源进行清洁，则留出重新校正时间，然后再重新使用。

梅特勒-托利多分析天平的防风罩几秒之内即可拆除，并且具有可安全使用洗碗机的面板，实现轻松清洁。 天平的清洁建议与规定
 
什么是分析天平不确定度？
进行测量时，总是存在不确定度元素。 对测量可疑度的估计（不确定度）是任何测量的关键。 这是通过测量天平性能、称量物体的属性以及周围环境来确定的。 测量不确定度的确定是天平校准不可分割的一部分。

为什么校准分析天平？
分析天平校准可确保称量设备既准确，又符合ISO、GLP/GMP、IFS与BRC等标准。 书面校准程序对测量质量进行了说明，应当在天平的整个使用期限内定期校准。

校准不应与天平校正混为一谈，必须在校正/维修之后重复进行校准。 了解校准的更多内容。
 
如何校准分析天平？
分析天平的校准由*服务技术人员使用校准软件，遵循标准程序来执行：
通过测试测量标准和校准指示之间的关系，来确定仪器的性能如何。
通过合格/不合格声明验证仪器是否符合特定要求。
如果不符合要求，则校正仪器，以便任何偏差都不会超过允差限值。
重新校准仪器，确认符合规定的允差要求。
在校准间隔之间的时间内，由用户执行的日常测试可检测潜在问题。

梅特勒-托利多开发了一个用于保证称量设备的正确选型、校准和操作的性科学标准，称为GWP®，即Good Weighing Practice™。

 
哪些允差适用于天平校准？
允差用于确定天平或电子秤可否有效称量，以达到一系列特定的工艺要求。 允差定义了发出通过/未通过声明的标准。 允差源自各种来源，其中包括：

法定允差：
OIML R76或NIST手册44（*美国）规定的法定允差用于评估合法贸易品要求。 此类允差非常大，使用实验室天平或者在测量范围的低端进行称量时，可轻易达标。
制造商允差：
制造商允差确保设备满足制造商规格。 制造商允差不考虑用户的特定过程要求，因此不适合改进称量过程。
过程允差：
特定过程允差由用户定义，支持过程改进，节省材料，避免浪费和返工。 因此对于合法贸易应用中的电子秤，除法定允差外，还应使用过程允差。
法定允差可保护消费者但不考虑特定生产商的要求。 优化应用于测量仪器的过程允差会对过程盈利能力产生巨大影响。

什么是分析天平小称量值？
每个分析天平小称量值都是不同的，具体取决于称重传感器的性能、其位置以及环境条件。 小称量值是仪器的准确性限值，如果低于此小称量值，相对测量不确定度（测量不确定度除以荷载，通常以%表示）则会大于所需的称量准确性，称量结果无法信任。
为了确定天平的小称量值，需要在工作环境中评测测量不确定度。 另外，作为小称重范围天平中的一个主要误差源，还可对可重复性进行评测以确定小称量值，该过程使用低于天平量程5%的小砝码执行。

梅特勒-托利多分析天平的MinWeigh功能由经过认证的技术人员安装，用于监测天平的小样品重量。 如果称量低于所确定的可接受小值，天平显示屏则会变为红色。
 
分析天平准确性和精确性 – 两者之间差别是什么，如何测试？
精确性指的是两个或多个测量值之间的接近度。 准确性指的是测量值与已知值之间的接近度，它基于读数精度、可重复性、非线性和偏载度。 准确性可使用以下方式进行测试：
具有已知质量的外部参比砝码（可追溯校准砝码）
使用内置到天平的参比质量的自动内部校正
准确性只能通过在使用位置对仪器进行的测试加以确定。
查看有关Good Weighing Practice的实验室天平教程 – 基本知识和称量影响课程。
 
静电对分析天平有哪些影响，如何消除静电负荷？
静电负荷可能导致称量结果不稳定，不可重复。 静电会对称量盘产生作用力，直接影响分析天平结果。 减少这些影响的预防措施包括：
确保充足的空气湿度(≥ 45%...50%)
尽可能使用防静电称量容器（是金属）
避免摩擦容器
如果样品足够小，则使用带边缘的金属盘来帮助屏蔽磁场。
要确保分析天平静电消除，可在称量之前使用去静电装置对样品和容器进行放电。

梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平选型

电子天平 XPR205D5/AC
电子天平 XPR205DU/AC
电子天平 XPR206DR/AC
电子天平 XPR205/AC
电子天平 XPR205DR/AC
电子天平 XPR105/AC
电子天平 XPR105DR/AC
电子天平 XPR305D5/AC
电子天平 XPR204/AC
电子天平 XSR204/AC
电子天平 XSR304/AC
电子天平 XSR204DR/AC
电子天平 XSR104/AC
电子天平 XSR64/AC
Balance XSR105DU/AC
电子天平 XSR105/AC
电子天平 XSR205DU/AC
电子天平 XSR225DU/AC
电子天平MS104TS/02
电子天平MS204TS/02
电子天平MS304TS/02
电子天平ML54T/00
电子天平ML104T/00
电子天平ML204T/00
电子天平ML304T/00
电子天平ML104T/02
电子天平ML204T/02
电子天平ML304T/02
电子天平ML54T/02
电子天平MS105
Analytical Balance MS105/M
电子天平MS105DU
Analytical Balance MS105DU/M
电子天平MS205DU
电子天平MS204
Analytical Balance MS205DU/M
Analytical Balance MS204/M
Analytical Balance ME54T/02
电子天平ME104/02
电子天平ME104E/02
电子天平ME204/02
电子天平ME204E/02
电子天平ME54/02
电子天平ME54E/02