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精密轮廓测量入门之选
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法,快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时,它还能提供安全而可靠的结果。
- 利用相关元件,更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
- 密码保护用户访问权限,避免不当使用
- 以多年经验为基础的出色校准流程,包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
- 稳定、坚固的测头
- 平滑运行,稳定而准确的驱动装置
- 根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
- 高定位精度
- 测杆固定技术,防碰撞保护
接触速度(Z 方向) | 0.1 至 1 mm/s |
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测杆长度 | 175 mm, 350 mm |
测量速度(文本) | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 | 25 µm |
扫描长度末尾(X 方向) | 120 mm |
分辨率 | Z 方向,相对探针针头:0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆) |
扫描长度开始(X 方向) | 0.2 mm |
取样角 | 在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77° |
定位速度(文本) | X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s |
导块偏差 | < 1 µm(超过 120 mm) |
测量范围 mm | (Z 方向)50 mm |
扫描长度(文本) | 0.2 mm 至 120 mm |
测量力 (N) | 1 mN 至 120 mN |