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XC 2 MIT马尔MARSURF CD 120轮廓测量站
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  • XC 2 MIT 产品型号
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  • 苏州市 所在地

访问次数:52更新时间:2022-06-02 20:20:03

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产品简介
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法,快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时,它还能提供安全而可靠的结果。
产品介绍

精密轮廓测量入门之选

测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法,快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时,它还能提供安全而可靠的结果。

  • 利用相关元件,更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
  • 密码保护用户访问权限,避免不当使用
  • 以多年经验为基础的出色校准流程,包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
  • 稳定、坚固的测头
  • 平滑运行,稳定而准确的驱动装置
  • 根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
  • 高定位精度
  • 测杆固定技术,防碰撞保护

接触速度(Z 方向)

0.1 至 1 mm/s

测杆长度

175 mm, 350 mm

测量速度(文本)

0.2 mm/s 至 4 mm/s

针尖半径

25 µm

扫描长度末尾(X 方向)

120 mm

分辨率

Z 方向,相对探针针头:0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆)
在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 µm

扫描长度开始(X 方向)

0.2 mm

取样角

在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°

定位速度(文本)

X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s

导块偏差

< 1 µm(超过 120 mm)

测量范围 mm

(Z 方向)50 mm

扫描长度(文本)

0.2 mm 至 120 mm

测量力 (N)

1 mN 至 120 mN

 



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