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产品介绍
UV-340单通道紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
性能特点
技术参数
项目 | 参数 |
波长范围λ1，峰值波长λp | （315～370）nm，λP＝340nm |
辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
紫外带外区杂光 | UV254<0.1%，UV297<0.05% |
零值误差（满量程FS） | <满量程的±1.0% |
长波响应误差 | <15% |
余弦特性（方向性响应）误差 | <10% |
非线性误差 | <±1.5% |
换档误差 | ±1% |
疲劳误差 | <3.0% |
相对示值误差 | <±8.0％（相对于NIM标准） |
响应时间 | <1秒 |
使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） |
整机功耗 | ＜0.1VA |
配置 | 主机、340探头、探头盖、数据线、说明书、合格证、9V电池等 |
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