Leeb430数显表面粗糙度仪光洁度仪粗糙度计-无锡斯洛森测控技术发展有限公司

Leeb430数显表面粗糙度仪光洁度仪粗糙度计返回列表页

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更新时间：2025-05-14 09:08:05浏览次数：2次

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详细介绍

Leeb430数显表面粗糙度仪光洁度仪粗糙度计测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统。

技术参数

	leeb430	leeb431
测量参数	Ra、Ry、Rq、Rz、Rt、RSm、RS、Rp、Rv、R3z、RSk、Rmax、Rmr	Ra、Rz、Rq、Rt
量程范围	±20μm、±40μm、±80μm
zui高显示分辨率	0.001μm
滤波方式	RC、PC-RC、GAUSS、D-P
取样长度	0.25mm、0.8mm、2.5mm、
评定长度	1L-5L（可选），L为取样长度	5L，L为取样长度
示值误差	≤±10％
示值变动性	≤6％
针尖角度	90°
显示方式	128×64点阵液晶
工作环境	温度：(10～40)°C，相对湿度：＜90%
重量	约440g
外型尺寸	119×47×65mm
标准	ISO、DIN、ANSI、JIS	ISO、GB
标准配置	主机、标准传感器、电源适配器、多刻线样板、传感器护套、支架
可选配	曲面、小孔传感器、深槽传感器，接长杆，测量平台，打印机，、PC分析软件