牛津Oxford CMI760 PCB面铜/孔铜测厚仪 返回列表页

牛津Oxford CMI760 PCB孔铜&面铜测厚仪​​​​​​​

牛津Oxford CMI760线路板孔铜&面铜测厚仪CMI700

CMI 700专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。

CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。

同时CMI 760具有*的统计功能用于测试数据的整理分析。

CMI 700配置包括：

CMI 700主机及证书

SRP-4探头

SRP-4探头替换用探针模块（1个）

NIST认证的校验用标准片及证书

选配配件：

ETP探头   TRP探头     SRG软件

SRP-4面铜探头测试技术参数：

铜厚测量范围：

化学铜：10μin–500μin (0.25μm–12.7μm)

电镀铜：0.1 mil–6 mil (2.5μm–152μm)

线形铜可测试线宽范围：8 mil–250 mil (203μm–6350μm)

准确度：±1% (±0.1μm)参考标准片

精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %

分辨率：0.01 mils≥1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1μm≥10μm, 0.01μm < 10μm, 0.001μm < 1μm

ETP孔铜探头测试技术参数：

可测试zui小孔直径：35 mils (899μm)

测量厚度范围：0.08–4.0 mils (1–102μm)

电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定

准确度：±0.01 mil (0.25μm) < 1 mil (25μm)

精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0%（实验室情况下）

分辨率：         0.01 mil(0.1μm)

显示               6位LCD数显

测量单位         um-mils可选

统计数据        平均值、标准偏差、zui大值max、zui小值min

接口               232串口,打印并口

电源             AC220

仪器尺寸         290x270x140mm

仪器重量         2.79kg