英国泰勒 SURTRONIC 3+ 粗糙度仪 返回列表页

测量范围

±150μm

分辨率

0.01μm

测量行程（zui大值）

25.4mm

测量行程（zui小值）

0.25mm

传感器类型

可选换

测量速度

1mm/S

测针

112/1502标准测针
测尖半径5μm
112/1053替换标准测针
测尖半径10μm

取样长度

0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm

参数精度

2%读数精度+LSDμm

测量参数

Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt,

主机电源

电池或接线电源

选用参数

Pc（用于代替Rq）
Tp%（可用于代替Rq）

WINDOWS界面图形分析

Waviness+Roughness

曲线分析图

数据处理器参数

Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr,
Sm,RsK,Rku,S,Pc,HSC,Rk,
Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,
Rpk,Rvk,R,Rmax,Ar,Pt,Kr,
tp5%,Htp,Vo

微机处理参数

粗糙度参数
Ra,Rq,Rt,Rp,Rv,Rku,Rsm,RzRTp,RHTp,……R3z.

波纹度参数
Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,Wku,Wsk,Wsm,……W3z

示滤波参数
Pa,Pq,Pv,Pt,…Ppc

RK参数
Rk,RpK,Rvk,……A1,Rvk

R+W参数
R,Ar,Pt…HTrc

主机尺寸

130*80*65mm

主机重量

450g

数据处理机

185*140*50mm