检测玻璃元素成分仪器设备
可配置Si、Al、Fe、Ca、Mg、S、K、Na、Cl-九通道，预留1个可增加通道位置，同时分析10种元素。
检测玻璃元素成分仪器设备
产品说明
标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析，是大中型企业质量控制的理想选择。
针对需求满足的解决方案
建筑材料/水泥
耐火材料/陶瓷
冶金矿产/采矿
金属材料
学术研究、教学
玻璃、石墨
土壤调查/元素分析
工艺控制
成分质量控制
成分检测
检验设备
成分指令控制
产品特点
1.1分钟即可完成准确测试，换样抽真空时间小于15秒
2.下照式X射线检测，*避免样品破碎造成的仪器故障，提使用效率
3.采用精度流气密度稳定器(技术)
4.标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析
5.引入测试系统技术、测试的短期和*稳定性*
6.配备经验系数法、理论影响系数法、基本参数法等定量分析方法
7.测试精度远优于GB/T176-2008对重现性的要求，轻松满足行业需求
产品功能
具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换，即可向配料系统传送分析数据，也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量监控。
具有技术的，快速，安全，性能可靠而实用的样品装卸系统
摇臂式设计的样品装卸系统，完善的粉末保护方式，预真空室和限定位置机构，实现度重现性，**，快速稳定。1000W光路设计示意图，
WDXRF色散方法是建立在X射线波动性基础上，依据布拉格定律（2dsinθ=nλ）对样品发射出的特征X射线及原级谱线的散射线进行分光，再将待测元素的特征X射线与基体中某些元素的次线射入探测器并将光信号转换为电信号，经放大后，再通过模数转换（ADC）将电信号转换为数字信号，然后由脉冲度分析器筛除次线、晶体荧光等，通过数据处理将特征X射线强度转换为浓度。
Ux-1000W连续72小时检测Ca:Ka谱线的强度，达到Q<1.1，Si:Ka谱线的强度，达到Q<1.05, 其他谱线轻易就可达到Q<1.02，
Ux-1000W连续72小时检测Ca:Ka谱线的强度，达到Q<1.1，Si:Ka谱线的强度，达到Q<1.05, 其他谱线轻易就可达到Q<1.02，荧光强度的稳定性(包括短期稳定性和*稳定性)极其。使仪器的校验周期延长到每周一次。加上采用进口瓦里安X光管（76um,400W薄皮窗）和进口压电源（60kV，10mA），使产品的稳定性达到行业水平。
1000W仪器采用WdxAnalyzer V1工作站，人机对话的软件界面、模块化的操作按钮，不同权限的操作员凭密码登陆、输出报告可选多种模式等特点。
性能指标
典型白生料样品的实测分析精度（60S），于GB/T176-2008对重现性的要求。 |
氧化物 | SiO2 | Al2O3 | Fe2O3 | CaO | MgO | Na2O | K2O | SO3 | Clˉ |
分析谱线 | Si:Ka | Al:Ka | Fe:Ka | Ca:Ka | Mg:Ka | Na:Ka | K:Ka | S:Ka | Cl:Ka |
□n-1≤ | 0.03 | 0.02 | 0.01 | 0.035 | 0.02 | 0.02 | 0.01 | 0.01 | 0.0007 |
重现性(%) | 0.10 | 0.06 | 0.05 | 0.15 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.002 |
GB/T176-2008 对重现性的要求（%） | 0.20 | 0.2 | 0.15 | 0.25 | 0.15 | 0.05 | 0.15 | 0.15 | 0.00 |
检测玻璃元素成分仪器设备
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