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日本KETT LE-200J系列膜厚计（涂镀层测厚仪）详细介绍：
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
日本KETT LE-200J系列膜厚计（涂镀层测厚仪）技术参数：
规格型号 | LE-200J | LH-200J | LZ-200J |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层 | 非磁性金属上绝缘层 | 磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0～1500um | 0～800um | 0～1500um |
测定精度 | <50um±1um , >50um±2% | ||
分 辨 率 | <100um 0.1um , >100um 1um | ||
功能统计 | 可设定上/下限数值，可分批统计zui大值、zui小值、平均值、标准差。 | ||
计量单位 | 公制、英制可自由切换 | ||
显示方式 | LCD液晶屏 | ||
操作面板 | 密封防水多功能数字键盘 | ||
随机附件 | 基体/校正标准片/电池/皮套/说明书/稳压电源/打印纸 | ||
电 源 | DV6V 5#碱性电池×6个（打印机另需4个），可接稳压电源 | ||
体 积 | 175mm(W)×245(mmD)×31mm(H) | ||
重 量 | 1100g | ||
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