MCW-3000A涡流涂层测厚仪氧化膜测厚仪-珠海天创仪器有限公司

MCW-3000A涡流涂层测厚仪氧化膜测厚仪返回列表页

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更新时间：2022-05-27 18:50:03浏览次数：15次

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MCW-3000A涡流涂层测厚仪氧化膜测厚仪

产品介绍

MCW-3000A涡流涂层测厚仪氧化膜测厚仪采用涡电流测量原理,可以方便无损地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等金属上的油漆、橡胶、塑料、氧化膜等）。

该系列产品均采用*的偏差自动跟踪技术使测量值更加精准，探头采用德国工艺标准进行加工，并使用新型合金材料使探头的使用寿命以及性大幅度提升。

MCW-3000A涡流涂层测厚仪氧化膜测厚仪主要性能：

基本测量模式：常规模式，小值模式，统计模式

监控测量模式：可进行差值设置，上下限报警设置

可选择删除存储单个数据或某一组数据或全部数据

可进行零点校准、两点校准及系统校准

可设置关机方式，背光开或闭，恢复出厂状态

可打印存储值，也可打印统计值

分组存储数据共6组，每组存99个测量点

可分组查看存储测量值

MCW-3000A涡流涂层测厚仪氧化膜测厚仪技术参数：

测量范围： 0-1200μm

高显示精度：0.1μm

欠电压显示：左上角显示＂＂

显示方式：3位液晶数字显示

尺寸/重量：146×81×30MM 260克

可选附件：打印机及通讯打印连线、微机通讯软件、内防腐探头

标准配置：主机、探头、标准样片、说明书、保修卡、合格证、五号电池、手提箱

涂层测厚仪校准注意事项

涂层测厚仪校准注意事项，应注意下列要点：

1.正确的校准对测量是关重要的。对于校准，将采用一个与后来被测量的物体相类似的样品，即同时，标准试样和衡量的对象应具有相同的形状和几何。基本上，更多测量对象的标准试样匹配，测量结果将更加。

2.确定校准样品和被测量物体的以下属性匹配： -- 表面的曲率半径 -- 衬底材料(如磁导率，电导；以理想的方式，标准试样和测量对象应是同样的材料) -- 基材厚度 -- 测量区域的尺寸

3.在开始校准之前，确保校准点，传感器提示和校准的样板是干净的。如果有必要，去除任何如油脂，金属屑等堆积物。任何杂质可能影响校准和导致校准的不稳定。

4.确保总是找到各自的同一校准位置，特别是小零件的测量和在棱角的测量。小零件建议使用测量支架。

5.在校准过程中远离强磁场。

6.更多可以与预期厚度匹配的标定标准厚度，将校准和测量更加准确。

7.根据电磁感应方法，测量钢或铁衬底上的有色金属涂料的厚度，需要多点校正。厚度标准样本必须由作为以后要测量的物体相同的金属制成。

8.如果使用校准箔，确保它们被放置在基板材料的平面位置上。箔下面的空气间隙必须避免，因为这将导致不稳定的读数。如果是曲线的铝箔，确保它们放置在基体上，如下所示。

9.精密厚度标准必须小心处理。厚度标准的任何磨损和破损将以错误的校准值反映出来。不许折叠校准箔。任何屈曲将导致贴膜下面产生气隙，导致不稳定的读数。保持厚度标准的清洁。任何油脂、油、灰尘或其他堆积物必须避免。铝箔的堆积物将被视为厚度，并将导致与堆积物厚度相同值的测量误差。给你一个大概的概念：一个指纹的堆积物就足以造成数微米的附加厚度误差。