珠海梅特勒电子天平 返回列表页

ML203E电子天平，梅特勒电子天平，珠海电子天平

梅特勒NewClassic ML203E电子天平量程为220克，可读性为0.001克，梅特勒 NewClassic ML203E电子天平具有基础天平所需要的一切：明亮的显示屏符合人体工程学设计、直观的用户界面、多种内置应用程序、支持电池操作，以及的称量性能和坚固耐用，始终确保和坚固。 梅特勒-托利多全新推出的称量、易于操作的NewClassic ML203E电子天平，满足高性价比需求。

NewClassic ML203E电子天平的特点：
内置单模块传感器（MonoBloc）和按键触发的内置砝码校正:采用单模块传感器（MonoBloc），具有显著的抗冲击、抗过载性能，同时确保准确的称量结果。按键触发的内置砝码校正，确保始终获得的称量结果。

电池操作: 每一款ML天平都支持AC交流电源或电池进行操作。内置电池槽可容纳8节AA电池，确保8小时的使用时间。

直接连接:内置RS232通讯接口，方便连接电脑、打印机等外围设备。同时可将称量结果直接传输Excel等开放式应用程序。传输过程自动开始，无需其它辅助软件。

明亮的背亮显示屏:清晰的背亮液晶显示屏，轻松读取称量结果。

NewClassic ML203E电子天平的标准配置

1.背亮液晶显示屏
2.按键触发的内置砝码校正
3.塑料保护罩
4.下挂称量钩
5.单模块传感器（MonoBloc）
6.抗过载保护
7.内置日期时间功能
8.可自由设置应用程序的快捷键
9.菜单保护功能

NewClassic ML203E电子天平提供:

1. 6个称量单位切换
2. 可在全量程范围内去皮
3. 环境适配器
4. 内置多种称量应用程序：计件称量、百分比称量、动态称量、检重称量、自由因子、统计功能、配方称量、总和计算
 

瑞士梅特勒NewClassic ML精密天平选型：
NewClassic ML 精密天平 （万分之一电子天平，可读性0.0001g）
电子天平型号     大称量范围  可读性
ML54 分析天平    52 g          0.0001 g
ML104 分析天平   120 g         0.0001 g
ML204 分析天平   220 g         0.0001 g

NewClassic ML 精密天平 （千分之一电子天平，可读性0.001g）
电子天平型号     大称量范围  可读性   校准
ML203 精密天平   220 g         0.001 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML203E 精密天平  220 g         0.001 g 全自动外校
ML303 精密天平   320 g         0.001 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML303E 精密天平  320 g         0.001 g 全自动外校
ML503 精密天平   520 g         0.001 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正

NewClassic ML 精密天平 （可读性0.01g）
电子天平型号    大称量范围  可读性  校准
ML802 精密天平   820 g        0.01 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML1602 精密天平  1620 g       0.01 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML3002 精密天平  3200 g       0.01 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML4002 精密天平  4200 g       0.01 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML3002E 精密天平 3200 g       0.01 g 全自动校准技术（FACT）外部校准
ML4002E 精密天平 4200 g       0.01 g 全自动校准技术（FACT）外部校准
ML802E 精密天平  820 g        0.01 g 全自动校准技术（FACT）外部校准
ML1502E 精密天平 1520 g       0.01 g 全自动校准技术（FACT）外部校准

NewClassic ML 精密天平 （可读性0.1g）
电子天平型号      大称量范围  可读性 校准
ML2001 精密天平   2200 g        0.1 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正 
ML4001 精密天平   4200 g        0.1 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML6001 精密天平   6200 g        0.1 g 全自动校准技术（FACT）或内置砝码校正
ML6001E 精密天平  6200 g        0.1 g 全自动校准技术（FACT）外部校准