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AE-1136D日本ae-mic超快速热敏电阻测试仪
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  • AE-1136D 产品型号
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  • 深圳市 所在地

访问次数:42更新时间:2022-05-26 17:30:03

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产品简介
日本ae-mic超快速热敏电阻测试仪
通过与外部标准热敏电阻比较,可以在室温下测量相对于标准值的百分比,而与温度特性无关
始终消除热电动势的影响,这是由于降低测量电流而引起的主要误差因素。
通过施加低测量功率和脉冲来防止被测物自热
产品介绍

日本ae-mic超快速热敏电阻测试仪

 

  • 可以测量外标电阻值和被测物体的电阻值
  • 可以校正外部标准电阻值[±9.999%]
  • 触点检查功能是Rs和Rx的标准设备
  • 比较器结果可以是集电极开路输出,LED显示和蜂鸣器声音
  • 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
  • GP-IB / RS-232C / Centronics接口(可选)

测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)

测量范围测量范围解析度实测电流测量精度显示范围
10Ω0.000Ω至15.000Ω1毫欧3毫安±0.03%±2位以内[慢​​] / 5位以内[快速]15000
100Ω0.00Ω至150.00Ω10毫欧1毫安±0.02%±2位以内[慢​​] / 5位以内[快速]
1kΩ0.0000kΩ至1.5,000kΩ100毫欧300微安
10kΩ的0.000kΩ至15.000kΩ100微安
100kΩ的0.00kΩ至150.00kΩ10Ω10微安
1兆欧0.0000Ω〜1.5000MΩ100Ω1微安±0.02%±3位以内[慢​​] / 6位以内[快速]
5兆欧0.000Ω至5.000MΩ1kΩ1微安±0.02%±5位以内[慢​​] / 10位以内[快速]5000
1Ω至5MΩ0.01%看上面规格参考±50.00%
测量端子开路电压9V以下
测量方式4端子测量,Rs / Rx切换方法[Rs和Rx均可进行接触检查]
采样时间[自由运行] 10次/秒[快速],5次/秒[慢]
[外部启动]大约7毫秒[快速],大约23-27毫秒[慢](取决于范围和模式)
比较器设定范围[MΩ测量] HI和LO均为0至15000
[%测量] HI和LO均为±50.00%
比较器判断结果显示LO / GO / HI,LED显示和蜂鸣器
控制信号测量开始信号:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始
保持信号:断开,“ H” [DC12V]:自由运行,“ L” [0V]:保持
判断结果信号[LO / GO / HI]:集电极开路输出大40V,100mA
接触错误[CONT-E]:
集电极开路输出大40V,100mA
测量结束信号[EOC]:集电极开路输出大40V,100mA
周边环境温度:5℃〜+ 40℃湿度:85%以下
需要电源AC85V-265V,50-60HZ,约60VA
外形尺寸333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起)
重量约2.6kg
选项・ RS-232C*
只能
内置这些选项之一。
・ GP-IB
・打印机输出(Centronics)
・打印机电缆

*规格如有变更,恕不另行通知。

 日本ae-mic超快速热敏电阻测试仪



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