XC-TDJ2精密光学经纬仪XC-TDJ2E* 返回列表页

XC-TDJ2精密光学经纬仪XC-TDJ2E*产品概述：
XC-TDJ2、XC-TDJ2E型经纬仪是一种精密的光学经纬仪。它可以精密测定水平角度、垂直角度及概略的距离。垂直角度及水平角度用光学测微器可直读到1″或1cc。产品性能、技术参数*符合J2级光学经纬仪GB/T3161-2003国标规定。
本仪器在大地控制测量、精密工程测量及国防建设上占有很重要地位。本仪器主要用于三、四等三角控制测量、精密导线测量、城市控制测量、矿区控制测量及大型精密机械安装、计量等工作上。
本仪器广泛用于测绘系统、地质水文勘察、煤田地质、各类矿、铁路、公路、桥梁、航道、水库大坝、城市建设、工厂建设、森林农田水利等各个部门中。
本仪器备有多种附件，用于扩大仪器的使用范围，以满足各种测量之需要，附件装卸方便，使用可靠。
产品特点：
1、X型长摆式竖盘指标自动补偿器，具有良好的抗高频振动性能
2、彩色读数视场，使读数方便、舒适清晰
3、垂直角度及水平角度用光学测微器可直读到1′或1cc
4、望远镜采用正、倒像两种，可配通用基座
5、*设计的空气阻尼结构，稳定可靠
XC-TDJ2精密光学经纬仪XC-TDJ2E*技术参数：

1.一年质保，终身维护。
2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应。
4.保证及时向用户以*惠的价格提供所需的备品备件和易损件