致茂Chroma 7925TO-CAN 封装外观检测系统 返回列表页

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致茂Chroma 7925TO-CAN 封装外观检测系统

主要特色：

• 可检测TO-CAN 封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合不良等缺陷
• 具备自动对焦功能，可克服载盘制造公差内的高度差异
• 检测完成后可依设定规格挑拣不良品
• 提供比人工目检更佳的可靠度及重复性
• 每小时蕞高可检测3600颗待测物
• 自动化上下料盘，减少人员上下料时间
• 提供完整的检测资料，包含检测数据及缺陷影像以供工程分析

Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系 统，可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行 检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配 置，可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于 载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不 相同，Chroma 7925配置了自动对焦系统，可自 动计算待测物之对焦距离并进行补偿，以确保可 以取得清楚的检测影像。

使用者可以自由设定良品与不良品之规则及缺陷 编码，并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑 拣及下片均为全自动化流程，大幅降低人员操作 及制程管理发生错误的机会。检测完成后，工程 师可以取得详细的缺陷量化数据，以及储存缺陷 影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检 测资料，使用Chroma 7925所取得之资料，将有 助于分析制程问题，并进一步提升产品良率。

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致茂Chroma 7925TO-CAN 封装外观检测系统