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当前位置：深圳市茂迪机电设备有限公司>> VA-70NIR 锥光成像分析仪
● VA-70NIR锥光成像仪配置了2500万像素分辨率探测器，搭载±70°大视角锥光镜头，可测量500-1100nm波长范围的发射器的fu射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、高速的测量结果 。
● ProICM测试软件提供直观的系统设置和数据分析，包括2D图形、等距图、雷达图等图形分析功能。
● 通过内置图像缓冲内存以及千兆网接口实现高速测量和数据传输。
● 通过选配的滤光片轮可轻松实现多波长的检测。
● 人脸识别传感器
● 3D传感器
● TOF结构光激光器
● VCSEL
● 近红外发射器
| 型号 | VA-70NIR |
| 探测器 | 23*23mm |
| 总像素 | 2621万 |
| 像素分辨率 | 5120*5120 |
| 测量功能 | fu射强度、fu射通量、角度分布 |
| 曝光时间 | 80us~10sec |
| 波长范围 | 500-1100nm之间各种单波长 |
| 滤光片 | 单个波长滤光片或多个波长滤光片 |
| 角度分辨率 | 0.039° |
| 测量直径 | 4mm |
| 测量距离 | 3mm |
| 视角范围 | ±70° |
| 尺寸 | 180*180*453mm(含镜头长度) |
| 接口 | LAN、Trigger |
| 工作温度 | 10~40°C |
| 供电电压 | AC电源适配器 |
* 规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。
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