相位法光速测量仪 返回列表页

SGG-1系列相位法光速测量仪

SGG-1系列相位法光速测量仪适用于科研院所、高等院校物理实验室的光速测量。实验装置内调制被测信号的光强，测量光强调制波传播距离变化所引起的相应相位变化，zui终测定光速，并可以扩展测量有机玻璃、人造水晶、无水乙醇等介质的折射率。

本系列实验仪器分为SGG-1A（基本型），SGG-1B（扩展型,）,SGG-1C（*型）三种不同配置，提供多种选择。

SGG-1系列仪器优点

1仪器安装拆卸简单，实验现象明显，步骤简洁。

2可用来测量空气中的光速，测量精度较好。

3可广泛应用与各种介质折射率测量

4可灵活选配部分仪器，性价比高，方便用户

5特别适合高校物理实验室

技术参数

光源 半导体650nm激光器

反射间距 58mm

测量精度 ≤2%

调制频率 100MHz

分辨率 0.1mm