飞纳电镜射击残留物分析（GSR） 返回列表页

  飞纳电镜射击残留物分析（GSR）的背散射成像，用来扫描样品和发现可疑的 “GSR” 颗粒。一旦发现可疑的颗粒，使用能谱（EDS）识别在该粒子中的元素。zui常见的搜索元素为 Pb，Sb 和 Ba。无铅底火的检测，例如 Ti 和 Zn 也可为搜索条件进行搜索。

  飞纳电镜射击残留物分析（GSR）是在台式扫描电镜运行自动射击残留物分析软件。其设计基于飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL。软件和硬件*一体化，以提高用户操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三个项目：自动射击残留物分析和分类软件包，BSED 和 EDS 探头内部集成，校准试样。

  配备 CeB6 灯丝，使其稳定运行，灯丝寿命不低于 1500 个小时，从可用性，适用性和运行时间的角度来看都非常理想。小于 1 分钟的加载时间，和快速的全自动马达样品台，使得飞纳 GSR 成为高度自动化应用的理想工具，可以用来进行自动射击残留物分析。

飞纳电镜射击残留物分析 Phenom GSR

• 基于 CeB6 灯丝的高分辨图像

• 直观易用的 GSR 软件

• 高吞吐量，一次性放置多达 36 个试样

• 操作简单，*丢失导航系统，*集成能谱仪

• 测量结果准确可靠，广泛兼容法医领域的各类应用

规格参数