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当前位置：上海四科仪器设备有限公司>> 上海欣茂XM-A大平片光谱测试仪
A型没有测试样品照明功能
大平片光谱测试仪是专为手机屏IR 油墨小孔测量及液晶显示屏、光学等制造行业的现场检测和质量控制设计的测试仪器。
仪器特点和功能
◆ 采用*的光、机、电、微计算机模快化设计,具有超群的性能和性价比，使操作更为简便。
◆ 配置高性能“全息光栅"的低杂散光高分辨率的单色器,具有出众的光学精度及测量准确性。
◆ 仪器具有良好的稳定性、重现性。
◆ *的自动调校0%T和100%T等控制功能。
◆ 具有定波长测试、双波长测试（550nm、850nm）及多波长测试和光谱扫描等功能。
◆ 仪器设计了可变狭缝及超小的测量孔径，满足客户对各种样品的需求。
◆ 可靠的断电保护措施，可记忆测得数据、扫描图谱、并实现了仪器快速初始化。
◆ 具有峰谷检测以及平均值的求取等各种高级功能，可快速直接准确的直读数据。
◆ 仪器具有超大的样品室，克服了传统仪器无法测试尺寸较大样品的缺陷，不需要将样品裁剪成小的尺寸就可直接测试了。
◆ LCD数字显示器可显示透射比等参数以及波长读数。
◆ 标准RS-232通讯接口（串口），可通过XIN MAO用户应用软件与电脑联机，可实现光度测量、光谱扫描、定量测试、时间扫描及数据处理等功能，使分析工作更理想。
主要技术指标：
◆ 波长范围： 325nm～1100nm
◆ 波长精度： ±1nm
◆ 波长重复性： ≤0.5nm
◆ 光谱带宽： 1.6nm（zui小测量直径Φ0.5mm）
2.7nm（zui小测量直径Φ0.7mm）
5.0nm（zui小测量直径Φ1.1mm）
6.6nm（zui小测量直径Φ1.4mm）
◆ 测 量 范 围 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C
◆ 透射比准确度： ±0.5%（τ）
◆ 透射比重复性： ≤0.2%（τ）
◆ 基线直线性： ±0.004A
◆ 杂散光： ≤0.3%T（340、420nm）
◆ zui 大 可 测 片： 300mm x 400mm
◆ 工作电压： AC 100V~240V 50Hz/60Hz
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