详情介绍：
JD25-C数据处理测长仪
一、特点：
JD25-C数据处理测长仪基座选用上等铸铁，经长期自然时效处理，稳定性好。采用优化设计，从结构上确保性能好，精度高。附件齐全，性好。JD25-C数据处理测长仪采用光栅数显技术，以精密光栅尺作为测量元件。软件功能齐全，不仅能对示值误差进行修正，同时还能自动修正由温度造成的测量误差。软件带有自动判别拐点功能。
二、用途：
JD25-C数据处理测长仪是光、机、电、算一体化的长度计量仪器，除可用于对零件的内外尺寸进行优良测量和比较测量外，还可使用仪器所带的专用附件组合进行各种特殊测量，该仪器主要应用于机械制造业，工具、量具制造及精密仪器制造等各级计量鉴定部门和企业的计量室。
其主要测量对象包括：
光滑圆柱形零件（轴、孔、塞规、环规等）
内螺纹、外螺纹、螺纹塞规、螺纹环规的中径。
带平行平面的零件（卡规、量棒、较低等级的量块）
三、规格参数：
测量范围（㎜）：
外尺寸：优良测量0—100；相对测量0—670
内尺寸：使用小测钩（*大伸入深度12，*大臂厚50）时，10～400
使用大测钩（*大伸入深度50，*大臂厚85）时，30～370
用电测测钩：1～60㎜；用测钩：14～112㎜
内螺纹中径测量：使用大测钩时（螺纹小径13～30㎜）
使用大测钩时（螺纹小径31—（70—臂厚）×2）
螺距：0.5～6㎜
外螺纹中径测量：*大200㎜，螺距1～6㎜
测量力(N)：0、1.5、2.5
数字显示当量：0.0001㎜
仪器示值变动性：外尺寸测量时，2σ≤0.3μm
内尺寸测量时，2σ≤0.5μm
仪器准确度：外尺寸优良测量时,仪器准确度优于(0.5+L/200) μm
内尺寸测量时,仪器准确度优于(1+L/200) μm
工作台：
安装面积：160×160mm2
高度调节范围（㎜）：0～100
横向行程：25㎜
绕Y轴倾斜：±3°
工作台转动：±4°
允许荷重：10㎏
测帽内径配合尺寸：φ6H7
测帽杆与测帽内径配合的外径尺寸：φ6g6
仪器外形尺寸（㎜）：长×宽×高=960×390×450
仪器重量：150㎏
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