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王子计测PAM-UHR100超高位相差測定装置
特点
① 1nm宽测量范围
② 高重复精度±1nm
③ 优秀的可操作性
④ 软件
测定对象:
位相差薄膜,塑料,偏振片
光盘
液晶组件
磁带用胶片
收缩薄膜
其他一般用途胶片
用途:
光学功能胶片的研究开发,质量管理
延伸胶片的定向评价(三维折射率,表面定向度)
包装膜的热收缩、撕脱性等的评价
液晶元件的双绞线波长色散特性评估
光学器件的透射椭圆偏振光的评价
王子计测PAM-UHR100超高位相差測定装置
技术参数
仕様 | 内容 |
測定対象 | 透明な延伸フィルム(PC,PET等) |
測定項目 | 位相差、配向角、複屈折 (位相差範囲 約800~20000nm) |
試料寸法 | □40mm 厚み3mm以下 |
システム構成 | 測定装置本体、ノートパソコン(OS:Windows 7 / Vista / XP) |
温湿度条件 | 10~35℃、20~80%RH(ただし結露しないこと) |
電源 | AC100V±10%、50/60Hz |
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