透射电镜校准标准样品 返回列表页

透射电镜校准标准样品MAG*I*CAL是为透射电镜校准提供的电镜标定标准样品和电镜校准标样,是一种的可追溯电镜校准样品和电镜校正标准样品.

透射电镜校准标准样品MAG*I*CAL是为透射电镜校准提供的电镜标定标准样品和电镜校准标样,是一种的可追溯电镜校准样品和电镜校正标准样品.
特点
这种*的校准样品可以直接追溯到硅的晶格常数。
所有放大范围内的图像放大倍率
相机恒定校准
图像/衍射图旋转校准
描述
可溯源透射电子显微镜校准样品
这种*的校准样品可直接追溯到硅的晶格常数，可用于在所有透射电子显微镜（TEM）中执行三个主要仪器校准：
所有放大范围内的图像放大倍率
相机常数
图像/衍射图旋转校准

应用
放大校准是电子显微镜中较常见的校准，因为重要的是要知道显微镜控制台上的图像上的放大值是否准确，如果不是如何校正该值。使用*的MAG * I * CAL校准样品，您可以在TEM的整个放大倍率下执行此校准，约1000x至1,000,000x。由于样品本身是单晶，因此也可用于执行相机常数校准以及图像/衍射图案旋转校准。虽然MAG * I * CAL校准样品是由材料科学家开发的，但是使用TEM的生命科学家会发现使用MAG * I * CAL同样有用。
描述
MAG*I*CAL校准参考标准是硅基半导体多层的离子铣削横截面TEM样品。它由四组5〜10nm厚的SiGe合金层组成，与〜13nm厚的纯硅层交替。器件质量外延层通过分子束外延（MBE）生长为单晶硅衬底上的应变层。四组交替层（超晶格）在TEM中提供暗和亮的对比度，并且通过高分辨率透射电子显微镜（HREM）直接校准参考硅的{111}晶格间隔，如在单晶硅衬底上测量的。标准上的校准标记直接以自然常数表示，即硅的晶格常数，这样MAG*I*CAL为自然基本常数提供了不间断的可追溯性。