X射线荧光光谱测厚仪 返回列表页

这款X射线荧光光谱测厚仪Thick800A是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型X射线镀层测厚仪和X射线厚度测量仪.主要应用于:金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定;黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.由于X光测厚仪是在线测量仪表,检测的厚度是钢板热态时的厚度,这样会和冷态时的厚度有一定的偏差,所以就增加了温度补偿系数.使在线测量的数据与冷态时保持一致.同样如果轧制材质有变化时,也会给测量带来误差.这时只需将不同材质的样板进行检测,计算出合金补偿系数,也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致.

X射线荧光光谱测厚仪的主要优势有：　

1、X光测厚仪有优化的配置，性价比*。　

2、提供的控制参数。

3、测量中不会造成对金属镀层的表面划伤和其他缺陷。

4、X光测厚仪精确，稳定，高速的无接触测量。5、备件充足，售后服务快速细致。

x射线荧光光谱测厚仪Thick800A技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序  适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm  样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
x射线荧光光谱测厚仪Thick800A特色
1.可测量0.01um-300um的镀层。
2.可做各种镀层（多层、合金、多层鎳）的精密测量。
3.除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。
4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。
5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。
6.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的镀层。
7.可对测量数据进行统计处理，以及和逐级进行共同管理。
8.标准板校正值的计算和设定可自动进行，非常简单。
9.有微处理器来进行计算、储存、思考。
10.本膜厚仪采用全对话是操作，因此，只要依据测量条件来进行设定就可测量情况，非常简单。
11.多可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理。例如：测量条件、平均值、值、小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可有列印机印出，制作测量报告很容易。
12.每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择，均可由电镀膜厚检测仪的微处理器自动判断、设定。
13.测量数据可由通讯网路来传輸，所以能和主机共同进行数据管理。
14.由于分解速度差距分得很细，因此可缩短测量时间。
15.可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层。
16.由于可储存６４个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定。