泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度仪新型粗糙度仪，可测 Ra ， Rz 两种参数。 DUO 具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。仪快速测量 在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可,携带方便 DUO粗糙度仪 可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。
经外接口 操作者可在距离被测工件 1m 处操作测量。
校准方便 DUO 粗糙度仪具有自身校准标准，可预设标准值，通过 LCD 显示出来。
测针保护 不用时，设“ park ”位置可全面保护测针。
人体工程学设计
泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度仪技术参数：
量 程： | 200um |
行 程： | 5mm |
取样长度： | 0.8mm+/-15% |
参 数： | Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um |
精 度： | Ra:0.1um Rz:0.1um |
尺 寸： | 125*80*38mm |
检测方式： | 压电式 |
重 量： | 200g |
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