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高分辨率三维计算机断层扫描& 紧凑型数字化X 光透视系统
主要特点:
• 高分辨率三维计算机断层扫描
• 实时高分辨率数字化X光透视
• 纳米级分辨率配置可选
• 5-250 um分辨率
• 大样品尺寸(320 mm x 720 mm)
• 可编程自动控制重复扫描
• 样品位置记忆
• 广泛的应用领域及产品分析
• 铅及钢铁结构,X射线内锁定系统
应用领域
• 计量 • 纤维-复合材料 • 塑料 • 多孔样品 • 其他
学术研究Academic Research
材料科学Material science
地质,石油&燃气Geology, Oil & Gas
矿物&地矿Minerals & mining
自然&生命科学Natural & Life sciences
主要行业Main industries
汽车Automotive
电子Electronics
铸造Casting components
航空航天Aerospace
塑料注塑Plastic injection
积层制造Additive manufacturing
医疗&齿科Medical & Dental
珠宝Jewelry
主要应用Main applications
度量Metrology
尺寸控制Dimensional controls
逆向工程Reverse engineering
零件检验Parts inspection
组装分析Assembly analysis
失效分析Failure analysis
材料内部分析Material interior analysis
壁厚分析Wall thickness analysis
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