CLV650系列SICK扫描仪技术讲解 返回列表页

CLV650系列SICK扫描仪技术讲解CLV650系列SICK扫描仪是指激光扫描仪可以测量的远距离，此参数在实际使用过程中受环境影响较大。主要影响因素有：目标物体表面反射率，目标物体形状，环境光干扰等等；一般情况下厂家会标明物体表面反射率为10%和90%情况下激光扫描仪的测量距离。
CLV650系列SICK扫描仪扫描精度分为两种表达方式：系统误差和统计误差；系统误差是指激光扫描仪多次测量的平均值与真值之间的误差；系统误差不能被*消除，但可以通过预先的标定减小系统误差影响； 统计误差是指激光扫描仪多次测量的均方差；统计误差可以采用多次测量取均值减小；CLV650系列SICK扫描仪环境参数
电磁兼容性（EMC）
EN 61000-6-3 (2001-10) / EN 61000-6-2:2005
抗振动
EN 60068-2-6 (1995)
抗冲击能力
EN 60068-2-27 (1993)
工作环境温度
0 °C ... +40 °C
储存温度范围
–20 °C ... +70 °C
允许相对湿度
90 %, 非冷凝
抗环境光能力
2,000 lx, 在条形码上
条码打印对比 (PCS)
≥ 60 %
CLV650系列SICK扫描仪类型: CLV650-0120
订货号: 1042121
产品系列: CLV65x
产品系列: 条码扫描器
?扫描设计: 行扫描
?阅读领域: 正前方
?版本: Standard Density
?连接类型: Ethernet
?电气连接: 2 x 在旋转式连接器单元提供 M12 圆插头（1 x 12 针插头，A 编码，1 x 4 孔插座，D 编码）?工作电压: 18 V DC .
SICK施克 CLV650固定式条码扫描器，自动聚焦，让检测物总是处于焦点之内。
SICK施克 通过使用实时的自动聚焦功能，扫描景深加大SICK施克 集成功能按键，可以实现自动设定，匹配或读码效率评估等功能SICK施克 集成CAN工业总线和可选集成以太网端口SICK施克 增强型SMART条码重组技术，对于破损，污损，打印质量差或者对比度差的条码有良好的读取性能SICK施克 优越的解码速度及使用可靠性
SICK施克 能自动对数据进行分类和过滤，并可编程SICK施克 集成WEB服务器，对诊断信息进行收集SICK施克 使用SICK一代的SOPAS软件进行参数设定SICK施克 集成LED显示条码读码效率
SICK施克 在同等级产品中体积小，集成度高SICK施克 可选摆镜式扫描器
SICK施克 主要应用:仓储系统物流行业包装行业食品饮料行业汽车行业SICK施克 使用自动聚焦的固定式扫描器-保证了扫描器达到佳的扫描效果SICK施克 SICK公司的CLV6系列产品为终端用户提供了量身定制的解决方案。除了保证高的扫描率外，著的特征包括了直观和友好的用户界面，以及对于以太网和工业总线的支持。CLV650系列SICK扫描仪技术讲解及安装尺寸如下：