电子芯片湿热老化测试箱 环境温变试验箱厂 返回列表页

电子芯片湿热老化测试箱 环境温变试验箱厂

低温试验箱可以用来考核和确定电工、电子产品或材料在温度循环变化，产品表面产生低温环境条件下贮存和使用的适应性。

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二，高低温试验箱厂家高低温试验箱设备标准型号和尺寸（也可按客户要求生产）（单位:mm）：
 型号 Y-HE-80G  内形尺寸:W×H×D 450×500×400   外形尺寸：650×1500×950
型号 Y-HE-150G 内形尺寸:W×H×D 500×600×500   外形尺寸：750×1600×1050
型号 Y-HE-225G 内形尺寸:W×H×D 500×750×600   外形尺寸：1000×1650×1200
型号 Y-HE-408G 内形尺寸:W×H×D 600×850×800   外形尺寸：1100×1750×1400