SX1934D型二合一数字式四探针测试计
产品说明
SX1934D型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。
二合一数字式四探针测试计
产品说明
SX1934D型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量，适用于半导体、太阳能行业的筛选。
产品特点
二合一数字式四探针测试计 仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点(自动调零)。可鉴别半导体PN类别。
详细参数
型号 | SX1934D |
测量范围 | 电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω，可鉴别半导体PN类别 |
外形尺寸 | 主机 173mm（D）×80 mm（W）×30mm（H） |
电源 | 交直流两用（内置锂电池）功 耗：<1W； 电源充电器：输入:220V±10% 50Hz； 输出:DC5V±10% |
 | 产品名称：摩擦系数测试仪
产品型号：STF-C |
摩擦系数测试仪型号：STF-C
产品概述
本机符合GB1006、ISO8295等标准，适用于测试塑料薄膜、薄片、纸张等材料滑动时的动、静摩擦系数，判定试样的滑爽性，用以调整包装物的生产工艺指标，满足产品质量要求。
产品特点
嵌入式智能控制，试验过程自动化
采用高精度力量传感器，测试精度高（小数点后三位有效数据）
无机械旋钮，全数字化系统，数字校正与调零
测试主机与电脑软件双控结构，不带电脑也可测试
特殊设计的驱动系统，运行平稳，测试结果更准确
试验数据液晶屏显示，标准RS232电脑通讯功能
动、静摩擦系数分别测试或同时测试可自由选择
专业软件支持，界面美观，测试报告精美
成组试验数据，内嵌数据统计分析功能，试验结果更精确
根据人体工程学原理优化设计的操作面板，操作便捷
符合GB 、ISO 、ASTM等测试标准
技术指标
测力范围 0～5 N
测量精度 0.5级
滑块行程 150 mm
滑块质量 200g
试验速度 100mm/min
试验条件 标准试验环境
主机尺寸 520 mm×320 mm×230mm（L×B×H）
电 源 AC 220V±10％ 50Hz
净 重 20Kg
标准配置 主机、软件、200g滑块 、通讯电缆
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