美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪 返回列表页

Panametrics 35系列的特性

• 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。

• 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取决于仪器和材料。

• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。

• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。

• 手持式，仅重0.24公斤（8.5盎司）。

• zui小/zui大模式

• 高-低报警

• 英制和公制显示（英寸或毫米）

• 多种语言用户界面

• *电池

Panametrics 35型和35DL型

在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

应用

• 从薄到厚的大多数材料

• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材

• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片

• 玻璃灯泡、瓶子

• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料

• 半径较小的曲面部分或容器

• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35HP型和35DL-HP型

HP测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、声速衰减明显或声速散播强的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下，使用大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。

应用
• 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料

• 厚金属铸件

• 厚橡胶轮胎、履带

• 玻璃纤维船体、储罐

• 复合材料板

• 分辨率为0.01毫米或0.001英寸