药用辅料比表面积检测 返回列表页

TriStar II Plus药用辅料比表面积检测

多用途/多通道/占地面积小

TriStar II Plus药用辅料比表面积检测是全自动化且含三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪，具有出色的性能和分析速度。TriStar II Plus药用辅料比表面积检测为用户提供高通量和高质量的数据。*的耐腐蚀的不锈钢歧管，可确保结果可靠且可重复。

*的硬件和软件特点

· *的耐腐蚀的不锈钢歧管，设计用于高精度的气体管理

· 改进的杜瓦瓶设计，提供超出40h的连续温度控制

· 直观的MicroActive软件使用户能够用交互方式分析等温线数据，更快地获得比表面与孔径数据

· 用户自定义报告选项允许直接建模

· 强大的Python脚本语言，允许用户开发TriStar II Plus软件标准报告库扩展程序

· 创新的仪器显示屏，方便的仪器性能指标和维护信息实时显示功能

· 能够在碳微孔分析中同时利用CO2与N2两个等温线通过NLDFT理论来计算全范围孔径

数据处理的优势

l 直接处理吸附数据。通过简单的移动计算条，用户立即更新文本属性。一键式访问重要的参数，让用户专注于结果，而不是参数

l 交互式数据处理大限度地减少使用对话框和达到计算参数的路径。这使用户准确和有效地确定材料的比表面积和孔隙度

l 更强的能包含压汞数据的文件添加叠加删除功能（多25个）

l 用户可选数据范围，通过图形化界面允许直接建BET、 t-plot，Langmuir、 DFT理论等模型

l 报告选项编辑，允许用户自定义多达五份报告，可在屏幕上预览

l 每个报表都有总结、表格和图形信息项 

低比表面积测量选项

氪气选件可以将比表面积测量范围扩展至0.001m²/g。

TriStar II Plus药用辅料比表面积检测表格和图表报告：

l 单点或多点BET 比表面积

l  总孔体积

l Langmuir 比表面和等温线

l t-Plot

l Harkins和Jura厚度层公式

l Halsey厚度层公式

l 碳黑STSA

l Broekhoff-de Boer

l Kruk-Jaroniec-Sayari

l BJH 吸附/脱附曲线

l 标准

l Kruk-Jaroniec-Sayari校正

l Dollimore-Heal吸附/脱附曲线

l 中孔

l 孔体积和面积分布

l MP-方法

l HK

l Saito-Foley

l Chang-Yang

l DFT孔径

l DFT表面能

l 总结报告

l SPC报告

l 确认报告