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一、二箱冷热冲击试验机厂家简介：
冷热冲击试验箱广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域，可发现产品潜在缺陷，做应力筛选试验，提高产品的可靠性和进行产品质量控制。
二、二箱冷热冲击试验机厂家技术参数：
型号 | BS-40H | BS-80H | BS-150H | BS-200H | BS-252H |
内箱尺寸W*H*D(mm) | 400*350*300 | 500*400*400 | 600*500*500 | 600*600*550 | 700*600*600 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 1100*1930*1450 | 1200*2000*1550 | 1300*1230*1670 | 1300*2500*1700 | 1400*2630*1750 |
重量(KG) | 500 | 700 | 900 | 1100 | 1300 |
温度范围 |
（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高温区：+60℃-150℃ 低温区：-10℃--65℃ ） | ||||
升温时间（蓄热区） | RT-200℃约35min | ||||
降温时间（蓄冷区） | RT—70℃约55min | ||||
温度回复/切换时间 | ≤5min / ≤10sec以内 | ||||
温度精度/分布精度 | ±0.5℃ ±2.5% ℃ | ||||
冷却方式 | 风、水冷式/双断压缩机 | ||||
电源 | AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||
三、冷热冲击试验箱执行标准：
1. GJB150.5A-2009温度冲击试验
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法温度变化试验导则
4. GJB360B-2009温度冲击试验
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
四、冷热冲击试验箱功能要求：
1.（空气）室内空间制冷、加热；
2.根据温度设定，室内空间达到设定温度
3.分为高温区、低温区、两个部分
4、两个区独立，通过吊篮切换温度
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