薄膜纳米厚度测量仪 返回列表页

薄膜纳米厚度测量仪

自动化薄膜厚度分布图案系统

依靠F54*的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。

可测样品膜层

基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：

薄膜纳米厚度测量仪

相关应用

半导体制造

• 光刻胶• 氧化物/氮化物/SOI• 晶圆研磨减薄/封装

液晶显示器

• 盒厚• 聚酰亚胺• ITO

光学镀膜

• 硬涂层• 抗反射涂层• 滤光片

微电子

• 光刻胶• 硅膜• 氧化铝/氧化锌薄膜滤镜

公司简介:
苏州英莳特仪器科技有限公司是一家专业的检测仪器供应商、服务商以及实验室整体检测方案配套销售的综合性公司，坐落于交通便利的江苏省昆山市，公司是由行业*人士创办并专注于代理国内外厂商仪器；针对手机玻璃、太阳能玻璃整体设备检测提供方案；针对界面化学表面处理及检测提供整套方案；针对材料成分分析及环保法律法规整体提供方法；努力构建整套实验室方案、耗材、培训、售后等一站式服务。

主营产品：红外光谱仪器、X荧光光谱仪器、GC-MS气相气质仪器、LC液相色谱仪器

主营业务：RoHS2.0实验室设计规划，前处理培训与讲解，设备采购等；