颗粒图像分析仪（配国产显微镜） 颗粒形貌分析仪
型号：GR/WKL-702
北京颗粒图像分析仪（配国产显微镜） 将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑，通过的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析，具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌，也可得到粒度分布等分析结果。
北京颗粒图像分析仪（配国产显微镜） 技术参数
测量范围：1～3000微米
zui大光学放大倍数：1600倍
zui大分辨率：0.1微米/像素
准确性误差：< ±3%(标准物质)
重复性偏差：< ±3%(标准物质)
数据输出：周长分布、面积分布、长径分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、Feret径分布、长短径比、中间（D50）、有效粒径（D10）、限定粒径（D60、D30、D97）、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不均匀系数、曲率系数。
配置参数（配置1国产显微镜）（配置2进口显微镜）
三目生物显微镜:平场目镜：10×、16×
消色差物镜：4×、10×、40×、100× （油）
总放大倍数：40×-1600×
摄像机：300万像素数字CCD（标准C接口镜头）
应用范围
适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。
软件功能及报告输出格式
1、可以对图像进行多项处理:如:影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大、对比度、亮度调节等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图
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