膜厚测试仪 薄膜测厚仪 返回列表页

膜厚测试仪 薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量。

主要参数：
通用名称：测厚仪
测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配） 
分辨率：0.1μm
测试速度：1～25次/min
测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
重复性：0.3μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；
                薄膜、纸张任选一种，非标可定制
电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重：30Kg 

技术特征：
1·严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
2·高精度测厚传感器，精度高、重现性好
3·多种测试量程可选，支持非标定制
4·测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
5·嵌入式高速微电脑控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验
6·支持手动和自动两种模式，供用户自由选择
7·标准化，模块化，系列化的设计理念，可大限度的满足用户的个性化需求
8·7寸高清彩色液晶触控屏，实时显示测试数据
9·内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能
10·标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输
11·可采用标准厚度计量工具标定、检验
12·实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
13·Pubtester提供客户专业定制服务，可满足不同用的多种不同测试需求

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