电脑式薄膜测厚仪 返回列表页

电脑式薄膜测厚仪THK-01适用于用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度准确测量，是一款测试误差低的全自动机械接触式测厚仪，本设备被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。

电脑薄膜测厚仪

电脑式薄膜测厚仪主要参数：
仪器型号：THK-01
通用名称：测厚仪
测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配） 
分辨率：0.1μm
测试速度：1～25次/min
测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
重复性：0.3μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；
                薄膜、纸张任选一种，非标可定制
电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重：30Kg

检测原理：采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。 

本检测仪器严格按照标准设计的接触面积和测量压力，操作智能化，检测效率高；自动升降测量头，有效简化人员操作；采用进口传感器，自动双重测量模式，可一键实现全自动多点测量，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。