TT230涂层测厚仪 返回列表页

TT230涂层测厚仪概述

TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

符合以下标准：

• GB/T 4957-1985 涡流方法
• JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
• JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

功能特点

• 采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
  （如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
• 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
• 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
• 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
• 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
• 设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
• 具有米、英制转换功能
• 具有打印功能，可打印测量值、统计值
• 具有欠压指示功能
• 操作过程有蜂鸣声提示
• 具有错误提示功能
• 具有自动关机功能

技术参数

• 测头类型：N
• 测量原理：电涡流
• 测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬）
• 低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）
• 探头连接方式：一体化
• 示值误差：
  1. 一点校准（um）：±[3%H+1.5]
  2. 两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
• 测量条件：
  1. zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10
  2. 基体zui小面积的直径（mm）：ф5
  3. zui小临界厚度（mm）：0.3
• 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
• 统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
• 工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
• 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
• 上下限设置：无
• 存储能力：15个测量值
• 打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
• 关机方式：自动
• 电源：二节3.6V镍镉电池
• 外形尺寸：150×55.5×23mm
• 重量：150g

基本配置

• 主机
• 铝基体
• 标准片一套
• 充电器
• 使用说明书

可选附件

• TA230打印机