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labthink现货供应薄膜测厚仪（CHY-CA型自动进样）

高精度薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672（塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法）、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
高精度薄膜测厚仪特征：
√ 微电脑控制、液晶显示
√ 菜单式界面、PVC操作面板
√ 接触式测量
√ 测头自动升降
√ 自动进样
√ 手动、自动双重测量模式
√ 数据实时显示、自动统计
√ 显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
√ 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
√ 标准接触面积、测量压力（非标可选）
√ 显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
√ 标准量块标定
高精度薄膜测厚仪技术指标：
测量范围：0～2mm
          0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
          注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s

了解详情请致电：济南兰光