高精度CHY-C2A薄膜测厚仪（GB/T 6672） 返回列表页

PARAM博每 CHY-C2A薄膜测厚仪

高精度CHY-C2A薄膜测厚仪（GB/T 6672）

薄膜测厚仪产品名称：测厚仪，薄膜测厚仪，纸张测厚仪，机械接触式薄膜测厚仪
薄膜测厚仪价格：*，咨询！
薄膜测厚仪产品用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
薄膜测厚仪产品特点：
1. 接触式测量
2. 测头自动升降
3. 手动、自动双重测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、测量压力（非标可选）
7. 标准量块标定
薄膜测厚仪技术参数：
1. 测量范围：0～2mm（常规）
                   0～6mm；12mm（可选）
2. 分 辨 率：0.1μm
3. 测量速度：10次/min（可调）
4. 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
5. 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
           注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
薄膜测厚仪标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
薄膜测厚仪依据标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
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