聚酰亚胺薄膜（PI）测厚仪 返回列表页

产品关键词：聚酰亚胺薄膜（PI）测厚仪、PI膜厚度测试仪、聚酰亚胺薄膜厚度检测仪、聚酰亚胺薄膜厚度测试仪


聚酰亚胺薄膜（PI）测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

CHY-CA型产品特点：
1. 接触式测量
2. 测头自动升降，自动进样功能
3. 手动、自动双重测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、测量压力（非标可选）
7. 标准量块标定
8. 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
技术参数：
1. 测试范围：0～2 mm（常规）；0～6 mm；12 mm（可选）
2. 分辨率：0.1 μm
3. 测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
4. 接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
      注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
5. 进样步距：0～1000 mm
6. 进样速度：0.1～99.9 mm/s

依据标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件；选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码