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当前位置：北京爱欧德仪器设备有限公司>>电力通讯仪器系例>>测量仪>> AODD-ST-102B集成电路芯片电参数检测仪
集成电路芯片电参数检测仪 探针测试台 中测台 点测机 晶体管芯电参数测试仪
集成电路芯片电参数检测仪 型号AODD-ST-102B
、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。
技 术 指 标：
工作台面370mm*245mm
载物台直径4"
光学参数总放大率：21-135倍；手轮调焦范围：60mm；升降调焦范围：200mm；
精密旋转台粗调范围：360°；微调范围：±10°；zui小刻划：1°；
铜盘直径：Φ85mm；绝缘盘直径：Φ102mm
三维探针座探针座X、Y、Z方向调节范围：±3.25mm，分辨率±2μ；
三维探针座在工作台面可任意位置固定，由磁性开关控制；
zui多可布三维探针座6个；
探针臂伸出长度：60mm；
探针长度：40mm；
探针探针材质硬质合金，针尖曲率半径2μm；
技 术 指 标：
工作台面370mm*245mm
载物台直径4"
光学参数总放大率：21-135倍；手轮调焦范围：60mm；升降调焦范围：200mm；
精密旋转台粗调范围：360°；微调范围：±10°；zui小刻划：1°；
铜盘直径：Φ85mm；绝缘盘直径：Φ102mm
三维探针座探针座X、Y、Z方向调节范围：±3.25mm，分辨率±2μ；
三维探针座在工作台面可任意位置固定，由磁性开关控制；
zui多可布三维探针座6个；
探针臂伸出长度：60mm；
探针长度：40mm；
探针探针材质硬质合金，针尖曲率半径2μm；
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