常州大平超声波仪器有限公司
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本品用于磁粉探伤时对几何形状复杂，不同材质的工件检验时，可以正确地选择磁化规范，并可检验探伤设备、磁粉或磁悬液的性能，在磁粉探伤操作中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作需要的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量，是磁粉探伤*的调试工具。
标准磁探试片 C型
本品用于磁粉探伤时对几何形状复杂，不同材质的工件检验时，可以正确地选择磁化规范，并可检验探伤设备、磁粉或磁悬液的性能，在磁粉探伤操作中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作需要的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量，是磁粉探伤*的调试工具。
标准磁探试片 C型 符合JB/T6060-2004标准
当探伤面窄小或表面曲率半径较小时，用A1型试片不能贴在工件表面的时候，请使用C1型标准试片，6片套。
规格：1#：8/50灵敏度相当于A-7/50
2#：15/50灵敏度相当于A-15/50
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