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X荧光镀层测厚仪Thick800A,天瑞仪器
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  • 苏州市 所在地

访问次数:6更新时间:2022-04-27 14:40:02

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产品简介
X荧光镀层测厚仪Thick800A,天瑞仪器
应用领域

,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业。
产品介绍

  

 X荧光镀层测厚仪Thick800A,天瑞仪器 

参数规格
1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 
2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;
3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;
4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);
5.SDD探测器:分辨率低135eV;
6.的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm;
7.样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头; 
8.准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合; 
9.仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um;


 X荧光镀层测厚仪Thick800A,天瑞仪器 性能特点
1.精密的三维移动平台; 
2.的样品观测系统; 
3.的图像识别; 
4.轻松实现深槽样品的检测; 
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换; 
6.双重保护措施,实现无缝防撞; 
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度。
仪器配置       
                                     
1    硬件:主机壹台,含下列主要部件: 
(1)   X光管                 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔      (8)双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2   软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

安装要求
1   环境温度要求:15℃-30℃
2   环境相对湿度:<70%
3   工作电源:交流220±5V
4   周围不能有强电磁干扰。



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