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EDX3600KX射线光谱仪
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  • EDX3600K 产品型号
  • 品牌
  • 生产商 厂商性质
  • 苏州市 所在地

访问次数:15更新时间:2022-04-27 13:40:01

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产品简介
EDX 3600KX射线光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到水平。
产品介绍

设备介绍

 

EDX 3600KX射线光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到水平。

具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。

 

硬件配置

 

自动切换型准直器和滤光片

真空腔体

自动稳谱装置

铍窗电制冷SDD探测器

自旋式样品腔

高效超薄窗X光管

超近光路增强系统

可自动开启的测试盖

90mm×70mm的液晶屏

的数字多道技术

多变量非线性回归程序

相互独立的基体效应校正模型

 

软件优势

 

采用公司新的能谱EDXRF软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。

具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

全新的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面更加广泛。

 

技术参数

 

型号:EDX3600K

X射线源:50KV、1mA

样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm

分析方法:能量色散X荧光分析方法

测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量

检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素

含量范围:ppm~99.99%

检测时间:10秒以上

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃

检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末

探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器125eV

激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

摄像头:高清摄像头

测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以

准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换

自旋装置:可调速的自旋装置

检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5~500ppm

真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa

数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率

测试台:360°电动旋转式

保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成

样品放置:*的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动

数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高500kcps

外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG

 

应用领域

 

专为粉未冶炼行业研发的一款设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。

同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

X射线光谱仪属于的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)一体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式技术为基础,结合国外相关新的技术发展成果,研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型。



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