铝膜测厚仪 返回列表页

铝膜厚度测定仪简单介绍

铝膜测试仪利用涡流原理制造: 即被测蒸铝层靠近高频激磁磁场时, 感应产生涡电流, 因而产生涡流磁场, 此涡流磁场反作用于原来激磁磁场, 使传感器阻抗发生变化, 然后通过检测电路并进行放大, 输出与厚度相对应模拟电压。

为了减少漂移即减少重复性误差和提高测量准确度，本仪器应用智能功能单片机系统，即对测厚过程中非线性和零漂进行校正，因而提高了测量准确度。

铝膜厚度测定仪技术参数

可测量范围与量程：被测薄膜尺寸  100mm±10%×200mm±10%

测量量程       厚度90～800Å（0.009～0.08µm）

方阻95～0.47Ω/□

精确度：测量准确度      厚度 ±(20Å+2%读数)

方阻 ±0.15Ω/□（在300～500Å范围）

读数重现性      10Å  (同一测量点)