JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜 返回列表页

JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜标配了冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外，新型STEM检测器不依赖于加速电压就可以获得高衬度的轻元素图像。因此，利用能增强轻元素衬度的新STEM成像技术可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差（即6重像散，目前阻碍透射电镜分辨率进一步提高的大障碍。），ASCOR和Cold-FEG的*组合实现了从高加速电压到低加速电压下的高分辨率。JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法，校正像差不需要交换标准样品也可以快速精确地校正至高阶像差。与采用传统校正算法的系统相比，JEOL CMSMO™能够高速处理数据，并且使操作进一步自动化。因此，客户在工作流程中可以简便高效地进行高分辨率观察及各种元素分析。